徕卡全手动正置材料金相显微镜-LeicaDM3XL检验系统,快速检测,快速响应。在微电子和半导体的检验、过程控制或缺陷和故障分析中,检测速度快,响应速度快。视场宽敞30%,可快速扫描可达6"样品组件,DM3XL检验系统凭借大视场能更快地识别缺陷,提高工作效率。 DM3XL检验系统为中等预算用户提供了高品质,是微电子和半导体理想的检验系统。
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