徕卡全手动正置材料金相显微镜-LeicaDM3XL检验系统，快速检测，快速响应。在微电子和半导体的检验、过程控制或缺陷和故障分析中，检测速度快，响应速度快。视场宽敞30%，可快速扫描可达6"样品组件，DM3XL检验系统凭借大视场能更快地识别缺陷，提高工作效率。
    DM3XL检验系统为中等预算用户提供了高品质，是微电子和半导体理想的检验系统。

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